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超聲波測(cè)厚儀在測(cè)厚中的那些因素會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響
點(diǎn)擊次數(shù):2100 更新時(shí)間:2017-02-23
   超聲波測(cè)厚儀在測(cè)厚中的那些因素會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響
  1 表面狀況對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
  1.1 表面覆蓋物
  測(cè)量前應(yīng)清除被測(cè)物體表面所有的灰塵、污垢及銹蝕物,鏟除油漆等覆蓋物。
  1.2 粗糙表面
  過(guò)于粗糙的表面會(huì)引起測(cè)量誤差,甚至儀器無(wú)讀數(shù)。測(cè)量前應(yīng)盡量使被測(cè)材料表面光滑,可使用磨、拋、銼等方法使其光滑。還可使用高粘度耦合劑。
  1.3 粗加工表面
  粗加工表面(如車床或刨床)所造成的有規(guī)則的細(xì)槽也會(huì)引起測(cè)量誤差,處理方法同上。另外調(diào)整超聲探頭串音隔層板(穿過(guò)探頭底面中心的金屬薄層)與被測(cè)材料細(xì)槽之間的夾角,使隔層板與細(xì)槽相互垂直或平行,取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度,可取得較好效果。
  1.4 圓柱型表面
  測(cè)量圓柱型材料,如管子、油桶等,正確選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線之間的夾角至關(guān)重要。簡(jiǎn)單地說(shuō),將探頭與被測(cè)材料耦合,探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線平行或垂直,沿與被測(cè)材料軸線方向垂直地緩慢搖動(dòng)探頭,屏幕上的讀數(shù)將有規(guī)則地變化,選擇讀數(shù)中的zui小值,作為材料的測(cè)量厚度。
  根據(jù)材料的曲率正確選擇探頭串音隔層板與被測(cè)材料軸線夾角方向。直徑較大的管材,選擇探頭串音隔層板與管子軸線垂直;直徑較小的管材,則選擇與管子軸線平行和垂直兩種測(cè)量方法,取讀數(shù)中的zui小值作為測(cè)量厚度。
  1.5 復(fù)合外形
  當(dāng)測(cè)量復(fù)合外形的材料(如管子彎頭處)時(shí)可采用上文介紹的方法,所不同的是要進(jìn)行二次測(cè)量,分別讀取探頭串音隔層板與軸線垂直和平行的兩個(gè)數(shù)值,其較小的一個(gè)數(shù)作為該材料在測(cè)量點(diǎn)處的厚度測(cè)量值。
  1.6 不平行表面
  為了得到穩(wěn)定、可靠的厚度測(cè)量值,被測(cè)材料的另一表面必須與被測(cè)面平行或同軸,否則將引起較大測(cè)量誤差或根本無(wú)讀數(shù)顯示。
  2 溫度對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
  材料的厚度與超聲波在材料中的傳播速度均受溫度的影響。對(duì)測(cè)量精度要求較高時(shí),可采用試塊對(duì)比法,即用相同材料、近似厚度的試塊在相同溫度條件下進(jìn)行測(cè)量,并求得溫度補(bǔ)償系數(shù),用此系數(shù)修正被測(cè)工件的測(cè)量值
  3 材料衰減對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
  對(duì)于一些如纖維、多孔、粗晶等材料,它們會(huì)造成超聲波的大量散射和能量衰減,以致可能使儀器出現(xiàn)反常的讀數(shù)甚至無(wú)讀數(shù)(通常反常的讀數(shù)小于實(shí)際厚度)。在這種情況下,該材料不適于用此測(cè)厚儀進(jìn)行厚度測(cè)量。
  4 參考試塊的使用
  對(duì)不同材料在不同條件下進(jìn)行測(cè)量,校準(zhǔn)試塊的材料越接近于被測(cè)材料,測(cè)量就越。理想的參考試塊將是一組被測(cè)材料的不同厚度的試塊,試塊能提供儀器補(bǔ)償校正因素(如材料的微觀結(jié)構(gòu)、熱處理?xiàng)l件、粒子方向、表面粗糙等)。為了滿足zui大精度測(cè)量的要求,一套參考試塊將是很重要的。
  在大部分情況下,只要使用一個(gè)參考試塊就能得到令人滿意的測(cè)量精度,這個(gè)試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同的材質(zhì)和相近的厚度。取均勻被測(cè)材料用千分尺測(cè)量后就能作為一個(gè)試塊。
  對(duì)于薄材料,在它的厚度接近于探頭測(cè)量下*,可用試塊來(lái)確定準(zhǔn)確的低限。不要測(cè)量低于下限厚度的材料。如果一個(gè)厚度范圍是可以估計(jì)的,那么試塊的厚度應(yīng)選上限值。
  當(dāng)被測(cè)材料較厚時(shí),特別是內(nèi)部結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜的合金等,應(yīng)在一組試塊中選擇一個(gè)接近被測(cè)材料的,以便于掌握校準(zhǔn)。
  大部分鍛件和鑄件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)具有方向性,在不同的方向上,聲速將會(huì)有少量變化,為了解決這個(gè)問(wèn)題,試塊應(yīng)具有與被測(cè)材料相同方向的內(nèi)部結(jié)構(gòu),聲波在試塊中的傳播方向也要與在被測(cè)材料中的方向相同。
  在一定情況下,查已知材料的聲速表,可代替參考試塊,但這只是近似地代替一些參考試塊,在一些情況下,聲速表中的數(shù)值與實(shí)際測(cè)量有別,這是因?yàn)椴牧系奈锢砑盎瘜W(xué)情況有異。這種方法常被用來(lái)測(cè)低碳鋼,但只能作為粗略測(cè)量。
  本測(cè)厚儀具有測(cè)量聲速的功能,故可先測(cè)量出聲速,再以此聲速對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量。
  5 鑄件測(cè)量
  鑄件測(cè)量有其特殊性。鑄件材料的晶粒比較粗大,組織不夠致密,再加上往往處于毛面狀態(tài)就進(jìn)行測(cè)量,因此使測(cè)量遇到較大的困難。
  首先是晶粒的粗大和組織不致密性造成聲能的極大衰減,衰減是由材料對(duì)聲能的散射和吸收造成的。衰減的程度與晶粒尺寸和超聲頻率是有密切關(guān)系的,相同頻率下衰減隨晶粒直徑的增大而增大,但有一zui高點(diǎn),超過(guò)這一點(diǎn),晶粒直徑再增大,衰減基本趨于一個(gè)固定值。對(duì)于不同頻率的探頭,衰減隨頻率的增大而增大。
  其次,當(dāng)晶粒粗大和鑄造中存在粗大異相組織時(shí),將對(duì)超聲信號(hào)產(chǎn)生異常反射,產(chǎn)生草狀回波或樹(shù)狀回波,使測(cè)厚結(jié)果出現(xiàn)錯(cuò)誤讀數(shù),造成誤判。
  另外,隨著晶粒的粗大,金屬結(jié)晶方向上的各向異性表現(xiàn)得更為顯著,從而使不同方向上的聲速造成差異,zui大差異甚至可達(dá)5.5%。而且工件內(nèi)不同位置上組織的致密性也不一致,這也將造成聲速的差異。這些因素都將引起測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確。因此對(duì)鑄件測(cè)量要特別小心。
  對(duì)鑄件測(cè)量時(shí)應(yīng)注意:
  測(cè)量表面粗糙的鑄件時(shí),必須采用粘度較大的機(jī)油、黃油等作耦合劑。
  建議用與待測(cè)物相同的材料,測(cè)量方向與待測(cè)物也相同的試塊來(lái)校準(zhǔn)材料的聲速。
  必要時(shí)可進(jìn)行兩點(diǎn)校準(zhǔn)。

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