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LCR數(shù)字電橋
安柏AT811 精簡(jiǎn)了全功能型AT810的電路，大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使用安柏科技經(jīng)典的微型機(jī)箱。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.3V，1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。 使用安柏科技 AT-OS 2007 微型儀器操作系統(tǒng)，使AT811更易用。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
智能LCR測(cè)試儀
安柏AT810A 采用高性能處理器，使用真彩色LCD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。內(nèi)建10Hz~20kHz 任意測(cè)試頻率設(shè)置，分辨率Z小0.0001Hz，并且提供任意電平設(shè)置，分辨率0.01V，使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
LCR測(cè)試儀
安柏AT810 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能LCR測(cè)試儀器。大規(guī)模的貼片技術(shù)的運(yùn)用，使得AT810僅需微型機(jī)箱即可容納。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
電感測(cè)試儀
安柏AT776 派生于全能型儀器AT817A，使其具有優(yōu)異性能。 內(nèi)建50Hz~100kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)場(chǎng)合的使用。 內(nèi)置RS232C接口，兼容SCPI編程語(yǔ)言，很容易與計(jì)算機(jī)通訊，完成所有儀器功能。 內(nèi)置Handler接口，配合RS232C接口完成復(fù)雜的自動(dòng)控制系統(tǒng)。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
電感測(cè)試儀
安柏AT770 派生于全能型儀器AT810，使其具有優(yōu)異性能。 內(nèi)建100Hz、120Hz、1kHz和10kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，使其能*一般生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)的使用。 內(nèi)置RS232C接口，兼容SCPI編程語(yǔ)言，很容易與計(jì)算機(jī)通訊，完成儀器功能。 內(nèi)置Handler接口，配合RS232C接口完成復(fù)雜的自動(dòng)控制系統(tǒng)。
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電容漏電流測(cè)試儀
安柏AT680SE是采用高性能微處理器控制的電容漏電流測(cè)試儀。數(shù)控測(cè)試電壓：1V~650V，6量程測(cè)試，使漏電流精度提高到2%，它可以測(cè)試10nA~20mA的電流，Z大顯示位數(shù)1999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)15次/秒，高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了方案，并且可替代模擬指針表。
查看詳細(xì)介紹 更新時(shí)間：2023-12-21 -
電容漏電流測(cè)試儀
安柏AT680是采用高性能微處理器控制的電容漏電流/絕緣電阻儀。數(shù)控測(cè)試電壓：1V~650V，7量程測(cè)試，使漏電流準(zhǔn)確度提高到1%，它可以測(cè)試1nA~20mA的電流，Z大325GΩ的絕緣電阻，Z大顯示位數(shù)9999數(shù)。測(cè)試速度可達(dá)55次/秒，依然保證1999讀數(shù)和5%的準(zhǔn)確度，高速測(cè)試為自動(dòng)化生產(chǎn)提供了方案。
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精密電容測(cè)試儀
安柏AT617 采用高能處理器，使用高亮彩色VFD屏幕的智能精密電容測(cè)試儀。直接派生于全能型儀器AT817A，使其具有優(yōu)異性能。 內(nèi)建50Hz~100kHz測(cè)試頻率，并且提供0.1V、0.3V和1V測(cè)試電平，0.05%的準(zhǔn)確度足以滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)場(chǎng)合的使用。
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